<span id="9dh6g"></span>

    
    
      1. 遠方光電宋立:Mini-LED與Micro-LED相關檢測技術最新進展
        發布日期:2020-05-19        

        主題詞Mini-LED ; Micro-LED ; 遠方光電 ; 宋立



         
        當前,新型冠狀病毒仍在持續,對產業及企業造成了一定程度的影響,也牽動著各行各業人們的心。在此形勢下,中國半導體照明網、極智頭條,在國家半導體照明工程研發及產業聯盟、第三代半導體產業技術創新戰略聯盟指導下,開啟疫情期間知識分享,幫助企業解答疑惑。助力我們LED照明企業和產業共克時艱。

         

        本期,極智課堂邀請到杭州遠方光電信息股份有限公司光電科學研究院研究員、宋立博士帶來了題為“Mini-LED與Micro-LED相關檢測技術最新進展”的精彩主題分享。

         

        Mini LED及Micro-LED芯片的發展及應用

         

        從傳統LED、小間距LED到Mini LED、Micro LED等,LED芯片的發展速度非常快,對于Mini LED、Micro LED的定義,業界多有討論,目前較多的是根據尺寸進行定義。報告針對Mini LED、Micro LED在顯示領域的應用特性進行了分析,并與現有的顯示技術進行了對比。

         

         

         

        Mini LED及Micro-LED芯片的測量

         

        現行相關測量標準有:SJ/T 11399-2009 《半導體發光二極管芯片測試方法》,SJ/T 11394-2009 《半導體發光二極管測試方法》,GB/T 36613-2018《發光二極管芯片點測方法》,CIE 235:2019,CIE 238:2020,CIE 127-2007等,暫無專門針對Mini-LED與Micro-LED測量標準出臺。

         

         

        對于相關測量指標,報告詳細分享了光學特性、光強及光強分布測量、光通量測量、光譜特性測量、芯片表面亮度分布測量等的最新進展與面臨的挑戰。


         

        報告指出,由于Mini LED、Micro LED的發光強度非常低,對于測量設備的光學設計及探測靈敏度都是挑戰,需要經過特殊設計。此外對于點亮所需的電源精度要求也較高。傳統的LED測量系統無法實際應用到Micro LED的光電性能檢測。對此,報告介紹極低電流下外量子效率的測量相應的解決方案:需要使用高穩定性的納安源點亮LED芯片,并使用高靈敏度光譜儀配合特制的積分球系統實現測量。

         

        針對輻射通量測量,2020年3月,CIE 239:2020《Goniospectroradiometry of optical Radiation Sources》正式發布。該標準技術報告是由潘建根教授級高工為主席的技術委員會CIE TC 2-74起草,是首個由中國大陸專家主持的CIE出版物。該技術報告凝聚了來自世界各地的光輻射測量專家在光輻射源空間光譜輻射度學領域的最新成果和共識。

        CIE 239:2020 主要涉及光輻射源在200 nm-2500 nm光譜范圍內光輻射的全空間分布測量技術原理,主要涉及的的參數有:總輻射通量、總光通量、區域輻射通量、區域光通量、平均色坐標、空間顏色均勻性等。

         

        Mini LED及Micro-LED顯示屏的測量

         

        LED顯示性能評價的相關標準方面,SJ/T 11281-2017和SJ/T 11141-2017:業內對其進行了修訂發布,但仍無法滿足Mini-LED Micro-LED顯示的評價需求;SJ/T 11590-2016:補充了運動圖像清晰度、頻閃等的目視觀察法,易受主觀因素影響。報告指出,當前很有必要Mini-LED和Micro-LED顯示屏的性能評價指標及其量化測量方法進行分析探討。

         

        報告詳細介紹了顏色性能的測量和評價、LED顯示屏均勻性的評價、灰階的評價與測量、頻閃特性的測量評價、其它瞬時特性及其測量方案、LED顯示屏的其它關鍵性能、視角及視角不均勻性、環境光特性等測量方法。并介紹了為滿足Mini-LED、Micro-LED顯示測量需求,相關測量設備所應關注的指標。

         

         


        來源:半導體照明網
        點擊查看網絡原文>>

        版權所有@ 北京市電子科技情報研究所 京公網安備 11010102003025號

        地址:北京市東城區北河沿大街79號  郵編:100009  Email:bjdzqbs@126.com

        在線人數:324

        當日訪問計數:7939

        累計訪問計數:58609906

        A片毛片免费视频在线看 - 视频 - 在线观看 - 影视资讯 - 唯一网